PEНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ
Рентгеиоструктурпый анализ основан па использовании явления дифракции рентгеновских лучей в веществе. Рентгеновское излучение — электромагнитное ионизирующее излучение. Рентгеновские лучи с длиной волны X < 0,2 нм условно называют жесткими, при X > 0,2 нм - мягкими. В рентгеноструктурном анализе используются лучи с длиной волны 0,05—0,25 нм.
При попадании пучка лучей на кристалл, линейные размеры которого имеют тот же порядок величины, что и длина волны, возможна дифракция.
Рассматривая кристаллы как дифракционные решетки, М. Лауэ определил следующие соотношения:
Для рентгепоструктургного анализа основополагающим было условие Вульфа и Брэгга, согласно которому максимумы возникают при отражении рентгеновских лучей от системы кристаллографических плоскостей, когда лучи, отраженные разными плоскостями этой системы, имеют разность хода, равную числу длин:
